GJBJ 3362-1998 自聚焦透镜焦斑直径和焦距测试仪检定规程
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ID： |
E8AF89B5A5CB4D98A97EED6C49955588 |
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文件大小(MB)： |
2.1 |
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9 |
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日期： |
2024-7-14 |
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中华人民共和国国家军用标准,FL0150 GJB/J 3362 — 98,自聚焦透镜焦斑直径和,焦距测试仪检定规程,Verification regulation for focused spot diameter,and focal length tester for the selfoc lens,1998-07-27 发布1999-01-01 实施,中国人民解放军总装备部批准,中华人民共和国国家军用标准,自聚焦透镜焦斑直径和,焦距测试仪检定规程,GJB/J 3362 - 98,Verification regulation for focused spot diameter,and focal length tester for the selfoc lens,1范,1.1 主题内容,本检定规程规定了自聚焦透镜焦斑直径和焦距测试仪(以下简称自聚焦透镜测试仪)的技,术要求、检定条件、检定项目、检定方法、检定结果的处理和检定周期0,1.2 适用范围,本检定规程适用于新制造的、使用中和修理后的自聚焦透镜测试仪的检定,2引用文件,本章无条文,3定义,3.1 自聚焦透镜selfoc lens,由圆柱状、折射率沿径向呈梯度变化的玻璃材料制成,具有聚光和成像作用的微小光学元,件,3 . 2 自聚焦透镜焦斑直径 focused spot diameter of tlie selfoc lens,一束平行光经自聚焦透镜聚焦，设在焦点位置光斑中心的光强最大值为P。，当光强值降,到最大值P。的l/e2(e = 2.71828)时对应的直径q,4 一般要求,4.1 受检测量器具的用途和原理,自聚焦透镜测试仪用于对自聚焦透镜聚光能力和成像性能的直接评价和对自聚焦透镜焦,斑直径和焦距的测量。其测量原理见图lo,焦斑直径测量过程为:激光器4发出的光束,经反射镜3反射后,由扩束器2扩束,扩束后,的光经衰减片衰减后平行入射到被测自聚焦透镜(以下简称被测样品)前端面，并在被测样品,后焦面汇聚成像,通过显微物镜放大后成像在CCD靶面上,通过图像处理,数据拟合后得到光,斑直径Q焦斑直径按式(1)计算:,总装备部1998-07 - 27发布1999 一 01 - 01 实施,1,GJB/J 3362-98,图1自聚焦透镜测试仪测量原理图,1一衰减片;2-扩束器*-反射镜;4-激光器;5 - CCD摄像机36-显微物镜；,7-被测自聚焦透镜;8-活动反射镜;9-准直物债;10-分划板；11-毛酸殖小2-光源,乩=dj B ⑴,式中：* ——被测样品的焦斑直径,xm；,心——CCD靶面上光斑直径,B——显微物镜垂轴放大率,焦距测量过程为：白光光源通过毛玻璃11后,照射在分划板10上，准直物镜9使分划板,上目标成为无穷远，待测样品7将分划板目标成像于后焦面，经显微物镜6放大后成像于,CCD摄像机5的靶面,通过图像处理得到CCD靶面上条纹间距口自聚焦透镜焦距按式(2)计,算：,L - f 0 ⑵,式中:「自聚焦透镜的焦距,mm;,-准直物镜的焦距,mm;,CCD靶面该对刻线的间距,mm;,y.——分划板上某对刻线间距,mm;,B——显微物镜垂轴放大率,4.2技术要求,4.2.1 外观及工作正常性,4.2.L1自聚焦透镜测试仪应标明制造厂名、产品型号、编号和制造日期口,4.2. L2自聚焦透镜测试仪外表应平整光洁，保护层无脱落、划痕、锈迹、气泡等口使用中和,修理后的自聚焦透镜测试仪允许有不影响计量性能的外观缺陷口,42. L3调节机构应灵活、平稳、可靠，不应有卡死或松动现象;锁紧部分紧固可靠口,2,GJB/J 3362-98,4 2 VA光学零件表面不应有目视可见的霉斑、脱膜、脱胶、麻点和划痕等,4.2.1.5分划板刻线（亮线）上不应有油污、斑点等。刻线边缘不应有大于刻线1/4宽度的毛,边口,4.2 J.6 H—Ne激光器或半导体激光器应有明确的波长标识或说明,波长为0.6328Mm或,0/ 67 pm 口,4.2.2 分划板的刻线间跑示值误差,分划板的刻线间晅示值的允许误差极限见表lo,表1 mm,刻线间距标称值,16,2,4,示值允许误差极限,±0.001,±0.001,8 ±0.002,土0.004,4.2.3 激光输出功率稳定度,激光输出功率稳定度不大于5%o,4.2.4 白光光源功率稳定度,白光光源功率稳定度不大于2%,4.2.5 激光器扩束后光束发散角,激光器扩束后光束发散角不大于3.0mrado,4-2,6准直物镜焦距允许误差极限,准直物镜焦距允许误差极限为± 0.3 % 0,4.2.7 显微物镜垂轴放大率允许误差极限,4.2.7.1 当放大率小于25乂时，显微物镜垂轴放大率允许误差极限为±0.3%,4.2.7-2当放大率大于或等于25K时,显微物镜垂轴放大率允许误差极限为±0.5%,4,2.8测量重复性,4.2. 8 J 焦斑直径测量重复性不大于0.05/mio,4.2.8 /2焦距测量重复性不大于0.5%,4.2.9 允许误差极限,4.2.9,1 焦斑直径允许误差极限为±0」5M,4.2.9.2焦距允许误差极限为±3%,4.3检定条件,4.3.1环境条件,a* 环境温度：20±5七,3,GJB/T3362-98,b.相对湿度:不大于80%;,c.其它:被检仪器不得有阳光或其他强辐射源直接照射，并应预先放置于检定环境2h以,上口,4.3.2检定用主要设备,检定用设备必须经法定计量技术机构检定合格,并在有效期内O,4.3.2.1 万能工具显微镜,最小分辨力为土 1闪口＞,4.3.2.2 光功率计,波长：0……
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